Zastosowanie programu SPICE w analizie obwodów elektrycznych i elektronicznych
Janusz Walczak, Marian Pasko
rok wydania: 2011 (wyd.II)
stron: 251
format: B5
oprawa: miękka
wydawnictwo: Politechnika Śląska
W książce omówiono zaawansowane metody analizy i modelowania obwodów elektrycznych i elektronicznych z wykorzystaniem symulatora SPICE.
W zakres książki wchodzą:
* Metody analizy obwodów wykorzystujące pojęcia wyrażeń arytmetycznych, parametrów i funkcji,
* Metody modelowania układów w trybie ABM,
* Metody analizy obwodów z wykorzystaniem modeli (bibliotecznych i własnych użytkownika) elementów RLMC, kluczy linii długiej, diod, tranzystorów bipolarnych i polowych, tyrystorów układów scalonych,
* Metody analizy: temperaturowej, wrażliwościowej, tolerancji oraz szumów w układach elektronicznych
SPIS TREŚCI:
PRZEDMOWA 5
1. WSTĘP 7
2. WYRAŻENIA ARYTMETYCZNE, PARAMETRY, FUNKCJE I ICH ZASTOSOWANIA 9
2.1. Wyrażenia arytmetyczne 9
2.2. Definiowanie parametru globalnego 14
2.3. Definiowanie funkcji 16
2.4. Modelowanie układów w trybie ABM 18
2.5. Modelowanie nieliniowych źródeł sterowanych 31
3. PODOBWODY I ICH ZASTOSOWANIA 50
3.1. Zasady tworzenia podobwodów i ich stosowania 50
3.2. Lokalizacja podobwodów 56
3.3. Przykłady zastosowań 58
4. ZASADY OPISU ELEMENTÓW UKŁADÓW 85
4.1. Wstęp 85
4.2. Dyrektywa MODEL - opis ogólny 86
4.3. Modele elementów RLC 88
4.4. Modele kluczy 91
4.5. Modele linii długiej
5. MODELE ELEMENTÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH 116
5.1. Diody 116
5.2. Tranzystory bipolarne 136
5.3. Złączowe tranzystory polowe 154
5.4. Tranzystory polowe z izolowaną bramką 166
5.5. Modele układów półprzewodnikowych w postaci podobwodów 178
6. DYREKTYWY PROGRAMU PSPICE 188
6.1. Wstęp 188
6.2. Dyrektywy podstawowych typów analiz 190
6.3. Dyrektywy dotyczące opracowania wyników obliczeń i danych wejściowych 195
6.4. Dyrektywy dodatkowe 201
7. DYREKTYWY ZAAWANSOWANYCH TYPÓW ANALIZ 205
7.1. Wyznaczanie funkcji przejścia układu 205
7.2. Analiza temperaturowa 206
7.3. Analiza wrażliwości 210
7.4. Analiza Monte Carlo 218
7.4.1. Opis elementów pasywnych 218
7.4.2. Opis elementów elektronicznych 221
7.4.3. Metoda Monte Carlo analizy obwodów 221
7.5. Analiza najgorszego przypadku 227
7.6. Analiza szumów 237
7.6.1. Klasyfikacja i opis szumów 237
7.6.2. Modele szumowe przyrządów półprzewodnikowych 240
7.6.3. Metodyka analizy szumów 242
7.6.4. Analiza szumów w programie PSPICE 244
LITERATURA 250
