SYSTEMY MIKROPROCESOROWE
NIEZAWODNOŚĆ, TESTOWANIE, TOLERANCJA BŁĘDÓW
Rolf Hedtke
Wydawnictwo: WNT, 1987
Oprawa: miękka
Stron: 176
Stan: bardzo dobry, nieaktualne pieczątki
W książce omówiono problemy związane z zapewnieniem wysokiej jakości systemów mikrokomputerowych: środki dla ochrony przed skutkami uszkodzeń podzespołów; metody testowania układów scalonych; wpływ projektowania sprzętu i oprogramowania na niezawodność systemu; stosowanie technik redundancyjnych; kody wykrywania i korygowania błędów. Książka jest przeznaczona przede wszystkim dla projektantów i użytkowników systemów mikroprocesorowych: może być książką pomocniczą dla studentów kierunków informatyki i elektroniki wyższych uczelni technicznych.
SPIS TREŚCI:
1. WPROWADZENIE
2. ZAPEWNIANIE JAKOŚCI - 10
21. Obliczanie niezawodności elementów - 10
22. Obliczanie intensywności uszkodzeń układów LSI w zależności od stopnia scalenia - 13
23. Zależność intensywności uszkodzeń od czasu - 14
24. Zależność intensywności uszkodzeń od temperatury - 16
25. Przewidywanie niezawodności wg MIL-HDBK-217B - 19
26. Określenie intensywności uszkodzeń układów scalonych za pomocą badań materiałowych - 22
27. Intensywności uszkodzeń elementów mikrokomputerów - 27
28. Badania za pomocą prób wyrywkowych - 29
3. METODY TESTOWANIA UKŁADÓW SCALONYCH - 32
31. Testowanie pojedynczych podzespołów - 32
32. Struktury ułatwiające testowanie - 34
33. Metody testowania systemów mikroprocesorowych - 37
3.31. Testowanie mikroprocesora - 38
3.32. Testowanie pamięci - 49
3.33. Testowanie urządzeń peryferyjnych - 58
4. WPŁYW PROJEKTOWANIA SPRZĘTU NA NIEZAWODNOŚĆ SYSTEMU - 61
41. Łączenie podzespołów - 61
42. Problemy zasilania - 66
43. Przewody - 70
44. Specjalne zagadnienia przy stosowaniu układów scalonych - 82
5. WPŁYW OPROGRAMOWANIA NA NIEZAWODNOŚĆ SYSTEMU - 85
51. Programowanie strukturalne - 88
52. Opracowanie zestawu testów - 90
53. Redundancja programu - 93
6. TECHNIKI REDUNDANCYJNE - 97
6.1. Wprowadzenie - 97
62. Metody wykrywania błędów - 104
6.3. Redundancja statyczna - 111
6-4. Redundancja dynamiczna - 114
6.5. Redundancja hybrydowa - 120
6-6. Porównanie metod redundancyjnych - 121
7- KODY WYKRYWAJĄCE I KORYGUJĄCE BŁĘDY - 124
71. Obliczanie niezawodności pamięci półprzewodnikowych - 124
72. Podstawowe zagadnienia kodów wykrywających i korygujących błędy - 127
73. Metody kodowania stosowane do równoległej transmisji danych - 134
7.31. Macierzowy opis metody korekcji - 134
7.32. Kod Hamminga - 139
7.33. Kod SEC-DED - 143
74. Metody kodowania stosowane do szeregowej transmisji danych - 150
7.41. Podstawy kodów cyklicznych - 151
7.42. Układy dla kodów cyklicznych - 153
7.43. Przykłady kodów cyklicznych - 160
WYKAZ LITERATURY - 166
SkOROWIDZ - 173
