SYSTEMY MIKROPROCESOROWE

NIEZAWODNOŚĆ, TESTOWANIE, TOLERANCJA BŁĘDÓW

Rolf Hedtke

Wydawnictwo: WNT, 1987
Oprawa: miękka
Stron: 176
Stan: bardzo dobry, nieaktualne pieczątki

W książce omówiono problemy związane z zapewnieniem wysokiej jakości systemów mikrokomputerowych: środki dla ochrony przed skutkami uszkodzeń podzespołów; metody testowania układów scalonych; wpływ projektowania sprzętu i oprogramowania na niezawodność systemu; stosowanie technik redundancyjnych; kody wykrywania i korygowania błędów. Książka jest przeznaczona przede wszystkim dla projektantów i użytkowników systemów mikroprocesorowych: może być książką pomocniczą dla studentów kierunków informatyki i elektroniki wyższych uczelni technicznych.

SPIS TREŚCI:

1. WPROWADZENIE

2.    ZAPEWNIANIE JAKOŚCI - 10
21. Obliczanie niezawodności elementów - 10
22. Obliczanie intensywności uszkodzeń układów LSI w zależności od stopnia scalenia - 13
23. Zależność intensywności uszkodzeń od czasu - 14
24. Zależność intensywności uszkodzeń od temperatury - 16
25. Przewidywanie niezawodności wg MIL-HDBK-217B - 19
26. Określenie intensywności uszkodzeń układów scalonych za pomocą badań materiało­wych - 22
27. Intensywności uszkodzeń elementów mikrokomputerów - 27
28. Badania za pomocą prób wyrywkowych - 29

3.    METODY TESTOWANIA UKŁADÓW SCALONYCH - 32
31. Testowanie pojedynczych podzespołów - 32
32. Struktury ułatwiające testowanie - 34
33. Metody testowania systemów mikroprocesorowych - 37
3.31. Testowanie mikroprocesora - 38
3.32. Testowanie pamięci - 49
3.33. Testowanie urządzeń peryferyjnych - 58

4. WPŁYW PROJEKTOWANIA SPRZĘTU NA NIEZAWODNOŚĆ SYSTEMU - 61
41. Łączenie podzespołów - 61
42. Problemy zasilania - 66
43. Przewody - 70
44. Specjalne zagadnienia przy stosowaniu układów scalonych - 82

5. WPŁYW OPROGRAMOWANIA NA NIEZAWODNOŚĆ SYSTEMU - 85
51. Programowanie strukturalne - 88
52. Opracowanie zestawu testów - 90
53. Redundancja programu - 93

6.     TECHNIKI REDUNDANCYJNE - 97
6.1.    Wprowadzenie - 97
62.    Metody wykrywania błędów - 104
6.3.    Redundancja statyczna - 111
6-4.    Redundancja dynamiczna - 114
6.5.    Redundancja hybrydowa - 120
6-6.    Porównanie metod redundancyjnych - 121

7-    KODY WYKRYWAJĄCE I KORYGUJĄCE BŁĘDY - 124
71. Obliczanie niezawodności pamięci półprzewodnikowych - 124
72. Podstawowe zagadnienia kodów wykrywających i korygujących błędy - 127
73. Metody kodowania stosowane do równoległej transmisji danych - 134
7.31. Macierzowy opis metody korekcji - 134
7.32. Kod Hamminga - 139
7.33. Kod SEC-DED - 143
74. Metody kodowania stosowane do szeregowej transmisji danych - 150
7.41. Podstawy kodów cyklicznych - 151
7.42. Układy dla kodów cyklicznych - 153
7.43. Przykłady kodów cyklicznych - 160
WYKAZ LITERATURY - 166
SkOROWIDZ - 173