SPEKTRALNA ANALIZA EMISYJNA
Wiktor Kemula
Adam Hulanicki
Wydawnictwo: PWN, 1956
Oprawa: twarda płócienna
Stron: 418
Stan: bardzo dobry (-), nieaktualne pieczątki
SPIS RZECZY
Przedmowa.
Wstęp
Rozdział I
Teoretyczne podstawy analizy emisyjnej
Rodzaje widm.
Powstawanie widm atomów
Budowa widma jako konsekwencja budowy atomu
Budowa powłok elektronowych a widma charakterystyczne pierwiastków
Wzbudzenie widm atomów i jonów
Rozdział II
Aparatura spektralna
Zasady działania aparatów spektralnych
Charakterystyka aparatury spektralnej
Rodzaje pryzmatów i ich zastosowanie
Własności materiałów optycznych.
Szczelina spektrografu, przesłony i oświetlenie
Zasadnicze typy spektrografów i ich charakterystyka..
Spektrografy siatkowe
Spektroskopy
Staloskopy.
Fotometry płomieniowe..
Nowoczesne fotoelektryczne przyrządy automatyczne..
Aparatura pomocnicza do analizy jakościowej
Aparatura pomocnicza do analizy ilościowej
Rozdział III
Wzbudzalniki
Charakterystyka wzbudzenia w płomieniu.
Budowa palników i rozpylaczy
Przykłady zastosowania fotometrii płomieniowej
Łuk prądu stałego.
Łuk przerywany prądu stałego i zmiennego.
Łuk wysokonapięciowy.
Charakterystyka wzbudzenia iskrowego
Iskra skondensowana.
Iskra sterowana
Technika pracy z łukiem i iskrą
Rozdział IV
Analiza jakościowa
Ogólne założenia analizy jakościowej .
Określanie długości fali linii widmowych.
Wybór linii do analizy jakościowej.
§ 32. Charakterystyczne grupy linii widmowych niektórych pierwiastków
§ 33. Elektrody węglowe.
§ 34. Przykłady zastosowania w praktyce
Rozdział V Analiza ilościowa
§ 35. Zasady spektralnej analizy ilościowej.
§ 36. Wybór linii analitycznych w analizie ilościowej
§ 37. Płyty fotograficzne, ich własności, kalibrowanie i obróbka
§ 38. Obliczanie natężenia linii widmowych.
§ 39. Przyczyny błędów w spektralnej analizie ilościowej
§ 40. Ocena błędów analizy
§ 41. Wpływ tła na wyniki analizy
§ 42. Wyznaczanie zanieczyszczeń resztkowych
§ 43. Metody rachunkowego i graficznego obliczania wyników
§ 44. Metoda linii ostatnich
§ 45. Metoda linii homologicznych
§ 46. Metoda porównania widm
§ 47. Metoda wewnętrznego standardu
§ 48. Inne ilościowe metody analityczne
§ 49. Technika pracy w analizie ilościowej.
§ 50. Rodzaje wzorców i wymagania stawiane wzorcom.
§ 51. Sporządzanie wzorców do analizy metali
§ 52. Sporządzanie wzorców niemetalicznych.
Rozdział VI
Specjalne zastosowania analizy spektralnej
§ 53. Analiza punktowa.
§ 54. Wstępne zagęszczanie próbki analizowanej
§ 55. Analiza roztworów
§ 56. Analiza rud i minerałów.
§ 57. Analiza substancji organicznych i biologicznych.
§ 58. Oznaczanie pierwiastków trudno wzbudzalnych.
Rozdział VII
Niektóre zasady organizacji pracy w laboratoriach spektralnych
Tablice linii ostatnich
Literatura
Słowniczek wyrażeń spektrograficznych w 4 językach
Skorowidz