Ta strona wykorzystuje pliki cookies. Korzystając ze strony, zgadzasz się na ich użycie. OK Polityka Prywatności Zaakceptuj i zamknij X

SN74BCT8240ANT scan test device with octal buffers

09-05-2015, 22:35
Aukcja w czasie sprawdzania była zakończona.
Cena kup teraz: 98.40 zł     
Użytkownik wolumen53_com
numer aukcji: 5254031096
Miejscowość Toruń
Wyświetleń: 9   
Koniec: 09-05-2015 21:23:19
info Niektóre dane mogą być zasłonięte. Żeby je odsłonić przepisz token po prawej stronie. captcha

SN74BCT8240ANT

Texas Instruments


SDIP24
Scan test devices with octal inverting buffers

  • Members of the Texas Instruments SCOPE [tm] Family of Testability Products
  • Octal Test-Integrated Circuits
  • Functionally Equivalent to ’ F240 and ’ BCT240 in the Normal-Function Mode
  • Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 JTAG Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
  • Test Operation Synchronous to Test Access Port TAP
  • Implement Optional Test Reset Signal by Recognizing a Double-High-Level Voltage 10 V on TMS Pin
    •
  • SCOPE & 63722 Instruction Set
    – IEEE Standard 1149.1-1990 Required Instructions, Optional INTEST, CLAMP,and HIGHZ
    – Parallel-Signature Analysis at Inputs
    – Pseudo-Random Pattern Generation From Outputs
    – Sample Inputs/Toggle Outputs

    • dokumentacja: http://www.wolumen53.com/pdf/SN74BCT8240ANT.pdf