Kontakt

Dział sprzedaży 535 [zasłonięte] 967

Dział techniczny 535 [zasłonięte] 630

e-mail

[zasłonięte]@op.pl

W sprawach technicznych proszę o kontakt na adres.

[zasłonięte]@op.pl

Odbiór osobisty

Przed udaniem się po odbiór koniecznie proszę o e-maila lub telefon do działu sprzedaży, w celu uzgodnienie terminu odbioru.

Warszaw-Ochota

ul.Siemieńskiego 13

Warszawa-Targówek

ul.Myszkowska 1

Wysyłka

Ewentualną zmianę adresu do wysyłki proszę podać w e-mailu po zakupie przedmiotu.
Różne przedmioty zakupione przez jedną osobę wysyłam w jednej przesyłce. Brany jest pod uwagę najwyższy koszt wysyłki zakupionych przedmiotów.

Reklamacje

Klientowi przysługuje prawo do zwrotu towaru w stanie niezmienionym w terminie do 10 dni od daty jego otrzymania. Wysyłając zwracany towar, należy dołączyć oświadczenie o odstąpieniu od umowy

Dareltek s.c.

O nas

Komentarze

Nasze aukcje

Opis przedmiotu

Precyzyjna podstawka testowa ZIF40 styków do układów scalonych. Posiada dźwignię przy pomocy której zaciskane jest gniazdo wielopinowe ze złoconymi stykami do obudów układów scalonych, lub innych modułów.

raster pomiędzy rzędami: 15.24 mm
raster: 2.54 mm
napięcie: < 50V DC
prąd: 100mA/styk
żywotność: min. 25.000cykli
rezystancja styku: max. 50mΩ
temperatura pracy -25°C ÷ +70°C

Dane techniczne w PDF