Podstawka testowa ZIF 40 pod układy 40pin

09-05-2014, 23:23
Aukcja w czasie sprawdzania była zakończona.

Cena kup teraz: 10 zł

Użytkownik atelektronics

numer aukcji: 4140039185

Miejscowość RADOM

Koniec: 09-05-2014 23:11:16

[zasłonięte]@atelektronics.pl

Tel. - 606 [zasłonięte] 302

13[zasłonięte]816

UWAGA!!!

Przesyłki: list ekonomiczny i list priorytetowy, są to przesyłki nierejestrowane! Nie ma możliwości reklamacji w razie zaginięcia!

WYSYŁKA TYLKO NA ODPOWIEDZIALNOŚĆ KUPUJĄCEGO!!!

mBank: 44 1140 [zasłonięte] 2[zasłonięte]0040002 [zasłonięte] 697383

Inteligo: 50 1020 [zasłonięte] 5[zasłonięte]5581175 [zasłonięte] 202046

PayU

Kupując na kilku Naszych aukcjach za wysyłkę płacisz tylko raz.
Do łącznej kwoty zakupionych towarów należy doliczyć koszt wysyłki z tej aukcji na której był on najwyższy.

Wysyłka w 24 godziny od zaksięgowania wpłaty.

W tytule przelewu proszę podać numer aukcji i nick z allegro.

Każdy kupujący otrzymuje paragon lub na życzenie F. VAT.

Koszt wysyłki jest ujęty na dokumencie sprzedaży oraz zawiera 23% podatek VAT.

Podstawka testowa ZIF 40

1 sztuka

Precyzyjna podstawka testowa ZIF do układów scalonych. Posiada dźwignię przy pomocy której zaciskane jest gniazdo wielopinowe ze złoconymi stykami do obudów układów scalonych lub innych modułów.

DANE TECHNICZNE:

Ilość pin: 40
Raster pomiędzy rzędami: 15.24 mm
Raster: 2.54 mm
Napięcie: < 50 V DC
Prąd: 100 mA/styk
Żywotność: min. 25.000 cykli
Rezystancja styku: max. 50 mΩ
Temperatura pracy: -25°C ÷ +70°C

Dane techniczne PDF:

002222

GCS-AP2-R