NANOTECHNOLOGIA PÓŁPRZEWODNIKOWA - METODY BADAWCZE

28-01-2012, 1:15
Aukcja w czasie sprawdzania była zakończona.

Cena kup teraz: 27 zł

Użytkownik azymut-book

numer aukcji: 2021482898

Miejscowość Czeladź

Koniec: 26-01-2012, 9:35

Dodatkowe informacje:
Stan: Nowy
Język: polski

POWIERZCHNIOWE METODY BADAWCZE
W NANOTECHNOLOGII PÓŁPRZEWODNIKOWEJ

JACEK SZUBER

INFORMACJE:

Wydawnictwo - WPŚ
Rok - 2002
Stron - 196
Oprawa - MIĘKKA LAKIEROWANA
Format - B5

STAN - NOWA

Wykorzystywane w ostatnich latach w badaniach powierzchni i struktur warstwowych półprzewodników metody badawcze charakteryzują się finezją i pomysłowością rozwiązań technicznych i w dalszym ciągu są intensywnie rozwijane. Opracowanie oraz zastosowanie tak dużej liczby metod badawczych jest związane przede wszystkim z wielką różnorodnością procesów fizycznych, chemicznych i elektronowych zachodzących na powierzchni oraz w strukturach warstwowych półprzewodników.
Wśród kilkudziesięciu metod badania powierzchni i struktur warstwowych półprzewodników, rozwiniętych głównie w ostatnich kilkunastu latach, szczególne miejsce zajmują metody wykorzystujące sondowanie powierzchni ciała stałego wiązką elektronów, fotonów lub jonów oraz polem elektrycznym.
Bezpośrednim powodem napisania tej monografii jest brak tego typu opracowania w literaturze polskiej. Nie spełniają bowiem właściwie tej roli wydane ostatnio w kraju monografie z zakresu fizyki powierzchni półprzewodników. Celem tego opracowania jest w miarę szczegółowy opis kilku najważniejszych powierzchniowych metod badawczych, w aspekcie ich zastosowań w nanotechnologii półprzewodnikowej.

ZASADY:

Dane do przelewu:

* wszelkie pytania proszę kierować PRZED podjęciem decyzji o kupnie

* NIE WYSYŁAMY ZA POBRANIEM

* wysyłka odbywa się w ciągu 2 dni roboczych od momentu zaksięgowania wpłaty na koncie

* wszystkie książki wysyłamy w kopertach ochronnych - LISTEM POLECONYM LUB PACZKĄ (istnieje możliwość odbioru osobistego po wcześniejszym umówieniu się

Więcej informacji na stronieO MNIE
REAL FOTO- wszystkie fotografie przedstawiają rzeczywisty stan książek

WYSTAWIAMY
NA ŻYCZENIE FAKTURY VAT

Opis:

PRZEDMOWA 5

1. TECHNOLOGIA POWIERZCHNI I STRUKTUR WARSTWOWYCH PÓŁPRZEWODNIKÓW 9

1.1. Uwagi wstępne 9
1.2. Warunki próżniowe w nanotechnologii półprzewodnikowej 12

1.3. Technologia i kontrola bardzo wysokiej próżni 14
1.3.1. Technologia bardzo wysokiej próżni 14
1.3.2. Kontrola bardzo wysokiej próżni 18

1.4. Technologia atomowo czystej powierzchni półprzewodników 21
1.4.1. Łupanie kryształu 22
1.4.2. Oczyszczanie realnej powierzchni półprzewodnika 23

1.5. Technologia półprzewodnikowych struktur warstwowych 29
1.5.1. Epitaksja z wiązek molekularnych (MBE) 29
1.5.2. Epitaksja molekularna ze źródeł gazowych (GSMBE) 37
Literatura 39

2. ANALIZA POWIERZCHNI I STRUKTUR WARSTWOWYCH PÓŁPRZEWODNIKÓW 40

2.1. Wymagania i metody oraz kryteria ich podziału 40
2.2. Sondowanie wiązką elektronów 42
2.3. Sondowanie wiązką fotonów 45
2.4. Sondowanie wiązkąjonów 47
2.5. Sondowanie polem elektrycznym 48
2.6.Ważniejsze metody badawcze - ogólna klasyfikacja 49
Literatura 50

3. DYFRAKTOMETRIA ELEKTRONOWA 51

3.1. Wstęp 51

3.2. Dyfraktometria elektronów powolnych 52
3.2.1. Podstawy teoretyczne 52
3.2.2. Aparatura pomiarowa 56
3.2.3. Możliwości badawcze 59
3.2.4. Zastosowanie w nanotechnologii półprzewodnikowej 62

3.3. Metoda odbiciowej dyfrakcji elektronów wysokiej energii 64
3.3.1. Podstawy teoretyczne 64
3.3.2. Aparatura pomiarowa 65
3.3.3. Możliwości badawcze i zastosowanie w nanotechnologii półprzewodnikowej 66
Literatura 70

4. SPEKTROSKOPIA ELEKTRONÓW AUGERA 71

4.1. Podstawy teoretyczne 71
4.2. Aparatura pomiarowa 88
4.3. Możliwości badawcze 115
4.4. Zastosowanie w nanotechnologii półprzewodnikowej 122
Literatura 126

5. SPEKTROSKOPIA FOTOELEKTRONOWA 128

5.1. Podstawy teoretyczne 129
5.2. Aparatura pomiarowa 139
5.3. Możliwości badawcze 148
5.4. Zastosowanie w nanotechnologii półprzewodnikowej 156
Literatura 161

6. SPEKTROMETRIA MASOWA JONÓW WTÓRNYCH 163

6.1. Podstawy teoretyczne 163
6.2. Aparatura pomiarowa 167
6.3. Możliwości badawcze 171
6.4. Zastosowanie w nanotechnologii półprzewodnikowej 174
Literatura 177

7. SKANINGOWA MIKROSKOPIA TUNELOWA 178

7.1. Podstawy teoretyczne 178
7.2. Aparatura pomiarowa 181
7.3. Możliwości badawcze 185
7.4. Zastosowanie w nanotechnologii półprzewodnikowej 189
Literatura 192

8. ANALIZA PORÓWNAWCZA MOŻLIWOŚCI POWIERZCHNIOWYCH METOD BADAWCZYCH 193

PRZED PODJĘCIEM DECYZJI PROSZĘ O ZAPOZNANIE SIĘ ZE STRONĄ ,,O MNIE"

ZAPRASZAM NA INNE MOJE AUKCJE

POZDRAWIAM