| | | 
| | » przesyłka polecona: 6 zł
» priorytet: + 2 zł
|  | | » paczka < 31,5 kg: 19 zł | 
| | | Na koszt przesyłki składa się opłata pocztowa, opakowanie ochronne oraz podatek VAT. Koszt przesyłki zostanie uwzględniony w cenie towarów. | Zakupy na kwotę powyżej 120 zł
= przesyłka GRATIS ! | | | | | | | |  | | BRE bank S.A.
61 1140 [zasłonięte] 2[zasłonięte]0040002 [zasłonięte] 406226
Profi-Libris
Marcin Badocha
Ul. Podhalańska 10/21
40-215 Katowice | | | W tytule wpłaty proszę podać nazwę użytkownika i numery aukcji | | | | | | | | |
PRZY ZAMÓWIENIU NA KWOTĘ POWYŻEJ 120 zł PRZESYŁKA
GRATIS !!!
DO KAŻDEGO ZAMÓWIENIA ZAKŁADKA DO KSIĄŻKI
GRATIS !!!
 | | | | | | | | | | | | MIERNICTWO UKŁADÓW SCALONYCH Ludwik Spiralski
Jerzy Kołodziejski | | » Wydawnictwo: WKŁ, 1977
» Oprawa: miękka z obwolutą
» Stron: 272
» Stan: bardzo dobry (-), pieczątki zlikwidowanej biblioteki
PEŁNY SPIS TREŚCI DOSTĘPNY PONIŻEJ ZDJĘCIA KSIĄŻKI
| | |
| | | | Podstawowe zagadnienia dotyczące miernictwa analogowych i cyfrowych mikroukładów scalonych. Rodzaje i cel badań oraz podstawowe czynniki mające wpływ na dokładność i jednoznaczność pomiarów. Przegląd podstawowych mikroukładów scalonych oraz najważniejszych metod i układów pomiarowych. Opis urządzeń pomiarowych do badań parametrów i mikroukładów oraz kryteria wyboru i tendencje rozwojowe tych urządzeń. Sposoby oceny niezawodności i czynniki mające wpływ na jakość mikroukładów scalonych.
Odbiorcy książki: pracownicy naukowi uczelni i instytutów, inżynierowie i technicy przedsiębiorstw przemysłowych oraz studenci.
SPIS TREŚCI
Przedmowa do wydania trzeciego
Przedmowa do wydania drugiego
Przedmowa do wydania pierwszego
Wykaz ważniejszych oznaczeń
Rozdział 1
ZAGADNIENIA OGÓLNE
1.1. Klasyfikacja mikroukładów scalonych..
1.2. Rodzaje i cel badań mikroukładów scalonych
1.3. Testy środowiskowe
1.4. Czynniki wpływające na jednoznaczność i dokładność pomiarów
1.5. Charakterystyka pomiarów analogowych i cyfrowych mikroukładów scalonych
1.6. Specyfika pomiarów mikroukładów o wielkiej skali scalenia
Rozdział 2
POMIARY ANALOGOWYCH MIKROUKŁADÓW SCALONYCH
2.1. Podstawowe układy analogowe
2.2. Parametry funkcjonalne..
2.2.1. Wzmacniacze operacyjne..
2.2.2. Komparatory
2.2.3. Stabilizatory
2.2.4. Układy scalone do sprzętu powszechnego użytku
2.3. Metody pomiarów parametrów mikroukładów liniowych
2.3.1. Pomiar impedancji wejściowej i wyjściowej.
2.3.2. Pomiar wejściowego napięcia i prądu niezrównoważenia oraz wejściowego prądu polaryzacji
2.3.3. Pomiar wzmocnienia napięciowego
2.3.4. Pomiar współczynnika tłumienia sumacyjnego rodzaju pracy
2.3.5. Pomiar maksymalnego wejściowego napięcia sumacyjnego i maksymalnego napięcia wyjściowego
2.3.6. Pomiar szybkości narastania napięcia wyjściowego i pasma wzmocnienia jednostkowego
2.3.7. Pomiar współczynnika zniekształceń nieliniowych..
2.3.8. Pomiar przesłuchu
2.3.9. Pomiar wzmocnienia różnicowego i fazy różnicowej..
2.3.10. Pomiar parametrów szumowych..
2.3.10.1. Pomiar współczynnika szumów..
2.3.10.2. Pomiar szumów wybuchowych .
2.3.11. Pomiar stosunku mocy sygnału do mocy szumów
Rozdział 3
POMIARY CYFROWYCH MIKROUKŁADÓW SCALONYCH
3.1. Podstawowe funkcje i układy logiczne.
3.2. Parametry funkcjonalne cyfrowych mikroukładów scalonych
3.2.1. Charakterystyki użytkowe i parametry statyczne
3.2.2. Parametry dynamiczne
3.3. Pomiary parametrów statycznych.
3.4. Pomiary parametrów dynamicznych
3.5. Testy funkcjonalne
3.6. Odporność cyfrowych mikroukładów scalonych na zakłócenia
3.6.1. Definicje parametrów
3.6.2. Pomiary odporności na zakłócenia
3.6.2.1. Metody pomiaru statycznej odporności na zakłócenia.
3.6.2.2. Metody pomiaru dynamicznej odporności na zakłócenia
3.7. Parametry i charakterystyki cyfrowych mikroukładów scalonych
3.7.1. Parametry i charakterystyki mikroukładów scalonych TTL i ECL
3.7.2. Parametry i charakterystyki mikroukładów scalonych MOS i CMOS
3.7.3. Właściwości i pomiary rejestrów przesuwających
3.7.4. Właściwości i pomiary pamięci półprzewodnikowych
3.7.5. Właściwości i pomiary mikroprocesorów..
3.7.6. Właściwości i pomiary układów kalkulatorowych
Rozdział 4
URZĄDZENIA POMIAROWE MIKROUKŁADÓW SCALONYCH
4.1. Charakterystyka ogólna..
4.2. Podstawowe zespoły urządzeń pomiarowych
4.3. Urządzenia z ręcznym programowaniem badań.
4.4. Automatyczne urządzenia pomiarowe.
4.5. Programowane automatyczne systemy pomiarowe
4.6. Kryteria wyboru urządzeń pomiarowych.
4.7. Tendencje rozwojowe urządzeń pomiarowych
Rozdział 5
OCENA I BADANIE NIEZAWODNOŚCI MIKROUKŁADÓW SCALONYCH
5.1. Wskaźniki niezawodności..
5.2. Elementy procesu produkcyjnego decydujące o niezawodności mikroukładów scalonych
5.2.1. Znaczenie kontroli technicznej w kształtowaniu niezawodności
5.2.2. Uszkodzenia mikroukładów scalonych w procesie produkcyjnym
5.3. Czynniki wpływające na niezawodność mikroukładów scalonych
5.4. Badania niezawodności mikroukładów scalonych
5.5. Badania przyspieszone i prognozowanie niezawodności
DODATEK
1. Symbole graficzne mikroukładów scalonych.
2. Obudowy mikroukładów scalonych..
3. Sposoby oznaczania mikroukładów scalonych
Wykaz literatury.. | | | | | |
