METODY ANALIZY I OPTYMALIZACJI TOLERANCJI PARAMETRÓW UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH

Maciej Stybliński

Wydawnictwo: WNT, 1981
Oprawa: miękka
Stron: 242
Stan: bardzo dobry, nieaktualna pieczątka

W książce omówiono metody analizy i optymalizacji tolerancji parametrów układów elektronicznych. Są w niej poruszane m.in. następujące zagadnienia: metody analizy wrażliwościowej mato- i wielkoprzyrostowej, analiza statystyczna układów, optymalizacja w sensie wrażliwościowych kryteriów jakości i w sensie najgorszego przypadku zmian parametrów, problemy optymalnego centrowania i strojenia, estymacja i optymalizacja uzysku produkcyjnego itp. Książka jest przeznaczona dla pracowników naukowych oraz inżynierów elektroników zajmujących się projektowaniem układów i systemów elektronicznych. Mogą z niej również korzystać studenci wyższych lat studiów wydziałów elektrycznych i elektroniki.

SPIS TREŚCI:

OD AUTORA-9

WYKAZ WAŻNIEJSZYCH OZNACZEŃ-

1. WPROWADZENIE-15
11. Pojęcia podstawowe: parametry wejściowe i wyjściowe, funkcje układowe, tolerancje i rozrzuty, uzysk produkcyjny, koszt-15
12. Problemy projektowania układów elektronicznych z uwzględnieniem rozrzutów elementów. Zakres książki-18

ANALIZA MAŁOPRZYROSTOWA ROZRZUTÓW FUNKCJI
UKŁADOWYCH-20
2.1. Definicje i interpretacje-20
2.2. Podstawowe właściwości wrażliwościowe wymiernych funkcji układowych-24
2.2.1. Związek wrażliwości funkcji układowej z wrażliwościami zer i biegunów-25 2.2.1.1.    Przypadek funkcji bikwadratowej-26
2.2.2. Wrażliwość a sprzężenie zwrotne; postać biliniowa transmitancji (immitancji)-29
2.2.3. Przykłady-32
2.3. Wrażliwość parametrów roboczych czwórnika-35
2.4. Obliczanie wrażliwości metodami komputerowymi-38
2.4.1. Obliczanie wrażliwości rzędu pierwszego-38
2.4.1.1. Obliczanie wrażliwości metodą układu przyrostowego i układu dołączonego dla układów liniowych-39
2.4.1.2. Niektóre aspekty obliczeniowe wyznaczania wrażliwości-45
2.4.2. Obliczanie wrażliwości rzędów wyższych—48
2.4.3    Obliczanie wrażliwości ze znajomości wartości funkcji biliniowej-51

3. ANALIZA DETERMINISTYCZNA WIELKOPRZYROSTOWYCH ROZRZUTÓW FUNKCJI UKŁAPOWYCH-52
3.1. Wrażliwość %vielkoprzyrostowa funkcji biliniowych i bikwadratowych-52
3.2. Efektywne metody komputerowe obliczania wrażliwości wielkoprzyrostowych-55
3.2.1. Metoda zastępczych żródel prądowych-55
3.2.2. Metoda modyfikacji macierzy impedancyjnej wielowrotnika-61
3.2.3. Inne metody i zagadnienia pokrewne-64

4. ANALIZA STATYSTYCZNA ROZRZUTÓW FUNKCJI UKŁADOWYCH-68
4.1. Rozważania ogólne-68
4.2. Metoda momentów statystycznych-70
4.2.1. Przybliżenie liniowe funkcji ukladowych-71
4.2.2. Obliczanie uzysku z zastosowaniem metody momentów-75
4.3. Określanie gęstości rozkładów metodami analitycznymi-76
4.4. Określanie gęstości rozkładów metodą dyskretyzacji rozkładów ciągłych parametrów-79
4.4.1. Dyskretyzacja rozkładów ciągłych-79
4.4.2. Metoda odwzorowań bezpośrednich-82
4.4.3. Metoda splotu wielowymiarowego-83
4.5. Metoda Monte Carlo (MC)-89
4.5.1. Błąd metody Monte Carlo i wymagana liczba losowań-91
4.5.2. Uwagi na temat zwiększenia efektywności określania uzysku (lub odrzutów) metodą Monte Carlo-93
4.5.3. Metoda losowania ważonego [32]—98
4.5.3.1. Redukcja wariancji estymatora łV-98
4.5.3.2. Aproksymacja obszaru odrzutów Rr (lub ograniczeń Rc)-99
4.5.3.3. Przypadek, gdy oszacowanie obszaru odrzutów (lub akceptowalności) nie jest znane [33]-105
4.5.4. Inne metody-108
4.5.4.1. Losowanie zależne-108
4.5.4.2. Losowanie we współrzędnych biegunowych-109

5. OPTYMALIZACJA UKŁADÓW W SENSIE WRAŻLIWOŚCIOWYCH KRYTERIÓW JAKOŚCI-112
5.1. Dokładność obliczeń wrażliwościowych-112 5.1.1.    Wskaźnik nieliniowości wrażliwościowej-112
5.2. Miary i kryteria wrażliwościowe-118
1. Całkowe statystyczne miary wrażliwościowe-119
2. Inne miary wrażliwościowe-122
5.3. Optymalizacja układów w sensie kryteriów wrażliwościowych-125
1. Sformułowanie problemu optymalizacji i metody jego rozwiązania-126
2. Przykłady rozwiązania problemu minimalizacji wrażliwości-128
5.3.21. Minimalizacja wrażliwości i kosztu z optymalnym doborem tolerancji (w sensie wrażliwościowym) [39]—128
5.3.22. Minimalizacja wrażliwości i kosztu układów scalonych [4l]-130
54. Przykłady optymalizacji układu na podstawie kryteriów wrażliwościowych-136

6.    OPTYMALNY DOBÓR TOLERANCJI ELEMENTÓW W SENSIE NAJGORSZEGO PRZYPADKU-147
61. Sformułowanie problemu optymalnego doboru tolerancji w sensie najgorszego przypadku [6, 8, 14] -148
6.11. Obszar tolerancji-148
6.12. Obszar ograniczeń-150
6.13. Projektowanie na najgorszy przypadek-152
62. Problemy obliczeniowe związane z optymalnym doborem tolerancji w sensie najgorszego przypadku-159
6.21. Optymalizacja z ograniczeniami-159
6.22. Metody eliminacji wierzchołków nieaktywnych-160
6.2.21. Schemat optymalizacji tolerancji z selekcją wierzchołków aktywnych-161
6.2.22. Metoda badania znaków pochodnych ograniczeń-162
6.2.23. Iteracyjne poszukiwanie wierzchołków aktywnych-165
6.2.24. Wykorzystanie symetrii układu-167
6.23. Aproksymacja obszaru ograniczeń-172
6.24. Optymalizacja tolerancji w obszarach niewypukłych-179
63. Teoria tolerancji a problemy modelowania-183
64. Teoria optymalnego doboru tolerancji z uwzględnieniem strojenia elementów-194 6.4.1    Równoważne sformułowanie problemu (P0)-206

7.    OPTYMALIZACJA UZYSKU PRODUKCYJNEGO-209
71. Rozważania ogólne-209
72. Optymalizacja uzysku metodą Monte Carlo (MC)-211
73. Optymalizacja uzysku bez stosowania metody Monte Carlo-215
74. Optymalny dobór tolerancji dyskretnych-216
DODATEK-217 LITER ATU RA-221
SKOROWIDZ-237