" Automatyczne testowanie w mikroelektronice"

- Andrzej Sowiński

Ilość stron: 432

ISBN: 83-[zasłonięte]-0956-9

Data wydania: 1991

wydawnictwo:Warszawa, WKŁ, wydanie 1

stan: książka używana w bardzo dobrym stanie, w jednym miejscu lekko naddarta obwoluta, zachowały się nawet schematy w zakładce na końcu książki, posiada pieczątki z biblioteki

Książka stanowi pierwszą w polskiej literaturze technicznej pracę poświęconą w całości testerom i automatycznemu testowaniu w mikroelektronice.

Informacje ogółem, definicje dotyczące testerów i automatycznego testowania. Warunki pomiarów, kontroli i diagnostyki. Mikroprocesor i mikro komputer w systemach testujących. Bloki funkcjonalne systemów. Organizacja wewnętrzna systemów. Sygnały diagnostyczne. Oprogramowanie. Testowanie analogowych i cyfrowych układów scalonych. Testowanie pamięci półprzewodnikowych i układów mikroprocesorowych. Testowanie pakietów. Przykłady rozwiązań konstrukcji systemów. Przyszłość systemów testujących.

Odbiorcy książki: studenci wydziału elektroniki, inżynierowie elektronicy specjalizujący się w aparaturze elektronicznej.