Ilość stron: 432
ISBN: 83-[zasłonięte]-0956-9
Data wydania: 1991
wydawnictwo:Warszawa, WKŁ, wydanie 1
stan: książka używana w bardzo dobrym stanie, w jednym miejscu lekko naddarta obwoluta, zachowały się nawet schematy w zakładce na końcu książki, posiada pieczątki z biblioteki
Książka stanowi pierwszą w polskiej literaturze technicznej pracę poświęconą w całości testerom i automatycznemu testowaniu w mikroelektronice.
Informacje ogółem, definicje dotyczące testerów i automatycznego testowania. Warunki pomiarów, kontroli i diagnostyki. Mikroprocesor i mikro komputer w systemach testujących. Bloki funkcjonalne systemów. Organizacja wewnętrzna systemów. Sygnały diagnostyczne. Oprogramowanie. Testowanie analogowych i cyfrowych układów scalonych. Testowanie pamięci półprzewodnikowych i układów mikroprocesorowych. Testowanie pakietów. Przykłady rozwiązań konstrukcji systemów. Przyszłość systemów testujących.
Odbiorcy książki: studenci wydziału elektroniki, inżynierowie elektronicy specjalizujący się w aparaturze elektronicznej.
