Księgarnia PIM, Tychy, ul. Jana Pawła II 24

tel.  501 [zasłonięte] 370

Księgarnia stacjonarna:
519 [zasłonięte] 288

504 [zasłonięte] 187

p[zasłonięte]@tlen.pl

Można łączyć zamówienie z zakupami dokonanymi na koncie: piotr26047 

Książki wysyłamy listem poleconym lub paczką w ciągu 1-3 dni roboczych po otrzymaniu wpłaty na
konto.

Na prośbę kupującego wystawiamy fakturę VAT.

W tytule przelewu proszę podać Nick z Allegro lub numer aukcji.

Odbiór osobisty:

Księgarnia PIM, Tychy

ul. Jana Pawła II 24

pon-pt 10-19; sob 10-16.

tel. 519 [zasłonięte] 288

Przy odbiorze osobistym proszę o kontakt z księgarnią w godzinach pracy księgarni.

Wpłata na konto

Pobranie:  w przypadku przesyłki pobraniowej prosimy o mailową dyspozycję do wysyłki za pobraniem. 

Bez względu na ilość zakupionych książek koszt przesyłki doliczamy tylko raz i wynosi on maksymalnie 10 zł.

Priorytet - dopłata 1,50 zł

Wzorcowanie aparatury pomiarowej
Piotrowski Janusz, Kostyrko Krystyna

 Wydawnictwo: Wydawnictwo Naukowe PWN
 ISBN:[zasłonięte]978-83-17051-6
 Format: 17.0x24.0cm
 Liczba stron: 582
 Oprawa: Miękka
 Wydanie: 2, 2012 r.

Opis:
 Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii!
Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono:
·aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar;
·podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej;
·zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych;
·aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności,
·wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów;
·badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania;
·aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium;
·sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania;
·laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności;
·przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.

W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych.

Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną.